植物冠層圖像分析儀   型號：HAD-Q2000

產(chǎn)品簡介

植物冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過專用分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數(shù)據(jù)，只操作一次即可，簡化了傳統(tǒng)測量方法要一天定點多次測量的繁復(fù)工作，而且利用圖像法測量冠層可以主動避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測量計算的障礙物。

測量參數(shù)

葉面積指數(shù)

葉片平均傾角

散射輻射透過率

不同太陽高度角下的直射輻射透過率

不同太陽高度角下的消光系數(shù)

葉面積密度的方位分布

用途與適用范圍

可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等，可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結(jié)構(gòu)的比較；可對農(nóng)田作物群體生長過程進行動態(tài)監(jiān)測，適用于生態(tài)學(xué)野外植物群體動態(tài)監(jiān)測的研究與教學(xué)；

也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)。

原理與方法

采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下， 采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法

結(jié)構(gòu)特點

為植物冠層結(jié)構(gòu)測量設(shè)計的小型魚眼攝像鏡頭安裝在萬向平衡接頭上，可自動保持鏡頭處于水平狀態(tài)鏡頭安裝在測桿一端，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到茂密的冠層中，測桿一端的通迅線可聯(lián)接在計算機上，方便取圖操作，由于小巧和帶有測桿，可伸入冠層不同高度處，快速地進行分層測量，測出群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖，測桿上附帶有線性PAR探頭，同時可測量冠層內(nèi)外的光量子通量密度(μmol/㎡•S)值，該值可以做為冠層內(nèi)能量分析的參考值.

功能特點

非破壞性地測定冠層結(jié)構(gòu)

可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)

手持式萬向接頭自動水平調(diào)整探頭，無需三角架

隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍

由外接鋰電池組提供電源便于觀測和長時間測量，尤其適合完成野外繁重的觀測任務(wù)

圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))。對不同方向的冠層進行區(qū)域性分析時，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件，通過手動調(diào)節(jié)閾值，可以更精準(zhǔn)的測量出葉面積指數(shù)等參數(shù)

鏡頭角度：150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要，180°魚眼鏡頭經(jīng)常不適合

孔隙測量原理與方法所假設(shè)的前提條件，用于冠層結(jié)構(gòu)分析是不適宜和不經(jīng)濟的)

分辨率：768×494pix

測量范圍：天頂角由0°～75°

PAR感應(yīng)范圍：感應(yīng)光譜400nm～ 700nm  測量范圍0～2000µmol·m -2·s-1

分析軟件：植物冠層分析系統(tǒng)

顯示和內(nèi)存：決定于筆記本電腦的選擇。

電 源：鋰電池組

傳輸接口：USB

工作溫度：0～55℃