1.巖石磨片機(jī)  拋光磨片機(jī)  型號：HAD-G250

本機(jī)采用可控硅無調(diào)速，配有調(diào)速裝置。整機(jī)為落地式，作平穩(wěn)。臺面不銹鋼制作。選不同速度，換不同目數(shù)金剛沙分別可當(dāng)拋光或磨片機(jī)用?？蓡斡没螂p用。當(dāng)拋光機(jī)用時(shí)，般0.2-0.3mm載波片樣拋制成0.02mm-0.03mm薄片只需不到20秒。

HAD-G250巖石磨片機(jī)  拋光磨片機(jī)主要參數(shù)：

拋光盤直徑：250mm
主軸轉(zhuǎn)速：無調(diào)速  0-1400轉(zhuǎn)/分

2.片劑硬度測試儀/片劑壓碎硬度計(jì) 型號:HAD-YD3

片劑硬度測試儀是用于測量片劑的壓碎硬度。
適用標(biāo)準(zhǔn)：JB/T20104-2007
標(biāo):
△  硬度測試范圍：2-200N  0.2KG-20KG 
△  分辨率：0.1N  0.01Kg
△  硬度測量度：量程±0.5%
△  片劑測試直徑：2-40mm
△  重復(fù)測量誤差：±1%
△  每組測試片數(shù)：≤100片
△  度量單位: 牛頓 N
                      公斤力  Kgf  (1Kgf=9.81N)
△  接口：標(biāo)準(zhǔn)串行打印接口，自帶微打。
△  外形尺寸：長*寬*  500mm*400mm*160mm
片劑硬度測量儀主要點(diǎn):
①  度壓力傳感器，保證測試的度和重現(xiàn)性。
②  顯示選用清晰度液晶顯示屏，顯示內(nèi)容豐富，用戶可根據(jù)屏幕提示智能化操作，每個(gè)操作過程均給出漢字提示和量化標(biāo)。
③  測量方式可選: 手動(dòng)單片/自動(dòng)連續(xù) 。
④  系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)壓片、自動(dòng)顯示、自動(dòng)鎖存、自動(dòng)復(fù)位、自動(dòng)循環(huán)測試、自動(dòng)線性誤差修正、自動(dòng)故障診斷。
⑤  強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力，可對試驗(yàn)結(jié)果行統(tǒng)計(jì)、分析、打印、顯示。可為您提交測試樣本的大值、小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差和變化范圍的報(bào)告。
⑥  自動(dòng)計(jì)算退片行程，壓縮您的測試占空時(shí)間。
⑦  度量單位鍵轉(zhuǎn)換（牛頓-公斤）。
⑧  新型前換紙微型打印機(jī)。

3.無線壓電互感器變比測試儀 型號:HAD-9500

產(chǎn)品點(diǎn)

測量：低壓電互感器二次回路的電、變比、比差、角差、相別、性、漏電在線測試監(jiān)控；變壓器兩側(cè)電大小、變比在線測試監(jiān)控；空電、漏電測試；二次回路核相、相序判斷能。

無線壓變比測試儀突破傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)，為測量低壓二次回路的電、變比、漏電而心制的，采用CT及掩膜數(shù)字集成，由用壓檢測儀、低壓電鉗、主機(jī)、壓緣桿、監(jiān)控軟件等組成，其無線傳送測試數(shù)據(jù)能穿透多層樓房障礙，直線傳輸距離達(dá)300米。若不使用緣桿，還可以當(dāng)作度低壓鉗形電表、漏電表使用，能準(zhǔn)確測出0.01mA～1000A的電或漏電。 

4.活性炭粒度測定儀/活性炭粒度測試儀/活性碳粒度檢測儀   型號:HAD-LD3

主要件及主要參數(shù):

測顆粒粒度測定儀的主要件及參數(shù)

l         轉(zhuǎn)速：150±2r/min

轉(zhuǎn)軸偏心距：20 ±1mm

2.定時(shí)器

3.電壓：220V    率：0.5KW

5.手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號:HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭點(diǎn)與選型參考》入
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
直    徑：HADT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測試臺直接測試方式180HADHAD×180HADHAD。
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100HADHAD。.
測量方位: 軸向、徑向均可.

 量程劃分及誤差等

4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重：≤0.3kg

 溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對應(yīng)的