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描述：介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀由Q表、測試裝置，電感器及標準介質(zhì)樣品組成，能對緣材料行頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數(shù)（ε）的測試。它符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2025-05-01訪問量
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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀 型號：HAD-Y2855
HAD-Y2855 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀由Q表、測試裝置，電感器及標準介質(zhì)樣品組成，能對緣材料行頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
HAD-Y2855作頻率范圍是100kHz～100MHz,它能成作頻率內(nèi)材料的頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來夾被測樣品，配用Q表作為示儀器。緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用HAD-Y2852A或HAD-Y2853A數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。
點：
本公司新的自動Q值保持，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005。
能對固體緣材料在100kHz～100MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)，調(diào)諧電容值等。
Q值量程自動/手動量程控制。
DPLL合成發(fā)生1kHz～70MHz（HAD-Y2852D）, 50kHz～160MHz（HAD-Y2853D）測試信號。立信號源輸出口，
所以本機又是臺合成信號源。
測試裝置符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)測試儀 型號：HAD-Y2858
HAD-Y2858系列 介電常數(shù)測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質(zhì)樣品組成，能對緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
HAD-Y2858系列介電常數(shù)測試儀作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能成作頻率內(nèi)對緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
HAD-Y2858系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來夾被測樣品，配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計算得到。
自動菌落計數(shù)儀系統(tǒng) 型號：HAD-HICCA
HAD-HICCA成像裝置
方便對焦的大景深1000像素（3264x2448像素）彩色拍攝儀，懸浮暗視野、背光可切換2平皿同時成像分析薄臺板
自動菌落計數(shù)儀系統(tǒng)適應(yīng)培養(yǎng)皿：50～180mm及A5幅面內(nèi)的矩形平板，同時測定2個90mm平皿（傾注、涂布、膜濾、螺旋平皿、3M紙片）
自動菌落計數(shù)儀系統(tǒng)HAD-HICCA菌落計數(shù)分析
自動識別統(tǒng)計：菌落智能識別，自動識別大規(guī)模團狀、鏈狀粘連的長形桿菌（顯微形態(tài)大片粘連的大腸桿菌、病菌孢子）及平皿上的各類菌落（含金色葡萄菌計數(shù)（標GB4789.37-2010）、大腸菌群測定（標GB/T4789.3-2010））。可自動形成批處理向?qū)?，實現(xiàn)鍵式自動計數(shù)
紫外可見智能多參數(shù)測定儀型號;HAD-3BA
紫外可見智能多參數(shù)測定儀
產(chǎn)品型號： | HAD-3BA | 顯示模式： | 透光率（%），吸光度和濃度 |
光學(xué)系統(tǒng)： | 氘氣燈（紫外），鎢燈（可見光） | 波長范圍： | 190-1000nm |
波長準確度： | ±2nm(200nm-900nm) | 波長再現(xiàn)性： | ＜0.2nm |
波長分辨率： | 0.1nm | 光譜寬帶： | 4nm |
光度測量范圍： | 3.0Abs(200-900nm) | 光度測量準確度： | ±0.5%T |
光度重復(fù)性： | 0.2%T | 雜散光： | ＜0.05%T |
光度漂移： | ±0.002A/h | 樣品池兼容性： | （10nm,20nm,30nm比色皿） |
曲線數(shù)量： | 218條(160條標準曲線，58條擬合曲線) | 數(shù)據(jù)存儲： | 4500個 |
顯示方式： | 5.6寸彩色液晶觸摸屏 | 操作界面： | 中文顯示 |
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