數(shù)字式四探針測試計/四探針測試計/數(shù)字式四探針測試儀　型號：SZB-SX1934B

產(chǎn)品點 
儀器由主機、測試探頭（可選配測試臺）等分組成，測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒源，分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭分子材料和耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點。(自動調(diào)零 

測量范圍 電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω 
可測半導體材料尺寸 直徑：Φ15～100mm； 長（或）度： ≤400mm 
電源
耗：<1W； 電源適配器：輸入:220V±10% 50Hz； 輸出:DC5V±10% 
外形尺寸 主機 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）