四探針金屬/半導體電阻率測量儀/四探針半導體電阻率測量儀.

更新時間：2012-04-07 | 點擊率：616

HAD-SB100A/2為原SB100/1及SB100A/1的改型。

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電分子材料的電阻及電阻率的測量。可用于校物理教育實驗，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻及電阻率的測試及研究。本產品的電阻測量范圍可達10^-6—10⁶Ω。

（使用環(huán)境5—40℃，相對濕度<80%，供電220V 50Hz，為實驗室環(huán)境使用）

HAD-SB100A/2由HAD-SB118直電壓電源、HAD-PZ158A直數字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平臺三分組成。

±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產品SB118。

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北京恒奧德儀器儀表有限公司

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